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SiC MOS 在有源功率因數校正電路的優勢
來源: | 作者:雋思半導體設備部 | 發布時間: 2024-01-02 | 769 次瀏覽 | 分享到:

      在電力電子技術的發展中,硅功率器件的使用已經發揮到了極致。第三代功率半導體器件SiC(HMDS烘箱)的出現,為電力電子技術的行業發展提供了廣闊的前景,不管是器件制造行業,還是電力電子裝置行業,都有了光明的前途。目前,開關電源都朝著高效和高頻化方向發展,從而造成了開關損耗增加、電源效率降低以及電磁感染嚴重等問題。針對這些問題,采用SiC MOS代替傳統的Si MOS,可實現極高的開關速度,高開關頻率和低開關損耗,同時采用有源功率因數校正的方法來提高開關電源的利用率。

    為了提高開關電源的工作頻率,降低開關損耗,減少電磁污染等,采用第三代半導體(HMDS烘箱)功率器件SiC MOS代替傳統的Si MOS,同時采用有源功率因數校正技術來提高開關電源的利用率。該文分析了整個電路的工作原理,利用Matlab仿真軟件對電路進行了仿真。仿真結果表明,在開關電源中使用SiC MOS可以提高開關頻率,降低開關損耗,提高電源的利用率。功率因數可達0.998以上,負載上輸出的直流電壓穩定,紋波電壓誤差小。

SiC MOSHMDS烘箱

溫度范圍:RT+10-200℃

真空度:≤1torr

操作界面:人機界面

工藝編輯:可儲存5個配方

氣體:N2進氣閥,自動控制

容積:定制

產品兼容性:2~12寸晶圓及碎片、方片等

  HMDS烘箱適用行業:MEMS、太陽能、電池片、濾波、放大、功率等器件,晶圓、玻璃、貴金屬,SiC(碳化硅)、GaN(氮化鎵)、ZnO(氧化鋅)、GaO(氧化鎵)、金剛石等第三代半導體材料。



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